1291 - 1300 из 1 674Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2009

  2. Electric conductivity of siliconorganic polyhomoconjugated polymer films upon adsorption of volatile organic compounds

    Komolov, A. S., Gerasimova, N. B., Lazneva, E. F., Gusarov, A. A. & Shamanin, V. V., фев 2009, в: Technical Physics. 54, 2, стр. 301-304 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Studying natural oxide on the surface of n-Si(111), n-Si(100), and p-Si(111) single crystal wafers by X-ray reflection spectroscopy

    Filatova, E. O., Sokolov, A. A., Taracheva, E. Y. & Bagrov, I. V., 1 янв 2009, в: Technical Physics Letters. 35, 1, стр. 70-72 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Aggregation of dextran hydrophobically modified by sterically hindered phenols

    Filippov, S. K., Komolov, A. S., Sergeeva, O. Y., Olifirenko, A. S., Lesnichin, S. B., Komarova, E. A., Loginov, B. A., Domnina, N. S. & Lezov, A. V., 2009, в: Polymer Science - Series A. 51, 2, стр. 161-167

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Atomic ordering in TiO2 thin films studied by x-ray reflection spectroscopy

    Filatova, E., Taracheva, E., Shevchenko, G., Sokolov, A., Kozhevnikov, I., Yulin, S., Schaefers, F. & Braun, W., 2009, в: Physica Status Solidi (B): Basic Research. 246, 7, стр. 1454-1458

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  6. Capacitance transient X-ray absorption spectroscopy of semiconducting structures.

    Bazlov, N., Vyvenko, O., Bondarenko, A., Trushin, M., Novikov, A., Vinogradov, A., Brzhezinskaya, M. & Ovsyannikov, R., 2009, в: Superlattices and Microstructures. 45, 4-5, стр. 190-199

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  7. Combined XBIC/μ-XRF/μ-XAS/DLTS investigation of chemical character and electrical properties of Cu and Ni precipitates in silicon

    Trushin, M., Vyvenko, O., Seifert, W., Kittler, M., Zizak, I., Erko, A., Seibt, M. & Rudolf, C., 2009, в: Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics. 6, 8, стр. 1868-1873

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  8. Electronic states of oxygen-free dislocation networks produced by direct bonding of silicon wafers

    Trushin, M., Vyvenko, O., Mchedlidze, T., Kononchuk, O. & Kittler, M., 2009, в: Diffusion and Defect Data Pt.B: Solid State Phenomena. 156-158, стр. 283-288

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  9. Experimental determination of dead layer thickness for excitons in a wide GaAs/AlGaAs quantum well

    Uby vovk, E. V., Loginov, D. K., Gerlovin, I. Y., Dolgikh, Y. K., Efimov, Y. P., Eliseev, S. A., Petrov, V. V., Vyvenko, O. F., Sitnikova, A. A. & Kirilenko, D. A., 2009, в: Physics of the Solid State. 51, 9, стр. 1929-1934

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  10. Fabrication and Characterization of Fluorinated Single-Walled Carbon Nanotubes

    Krestinin, A. V., Kharitonov, A. P., Shul`ga, Y. M., Zhigalina, O. M., Knerel`man, E. I., Dubois, M., Brzhezinskaya, M. M., Vinogradov, A. S., Preobrajenskii, A. B., Zvereva, G. I., Kislov, M. B., Martynennko, V. M., Korobov, I. I., Davydova, G. I., Zhigalina, V. G. & Kiselev, N. A., 2009, в: Nanotechnologies in Russia. 4, 1-2, стр. 60-78

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  11. Investigations of structure of thin HfO2 films by soft x-ray reflectometry techniques

    Filatova, E. O., Sokolov, A. A., Kozhevnikov, I. V., Taracheva, E. Y., Schaefers, F. & Braun, W., 2009, в: Journal of Physics: Condensed Matter. 21, 18, стр. 185012_1-7

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

Назад 1...126 127 128 129 130 131 132 133 ...168 Далее

ID: 31041