1. 2010
  2. X-ray Spectroscopic Examination of Thin HfO2 Films ALD- and MOCVD-Grown on the Si(100) Surface

    Sokolov, A. A., Ovchinnikov, A. A., Lysenkov, K. M., Marchenko, D. E. & Filatova, E. O., 2010, в: Technical Physics. 55, 7, стр. 1045-1050

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

  3. Газовые сенсорные свойства полупроводниковых композитных пленок замещенного перилена и нанокластеров диоксида олова.

    Комолов, А. С., Герасимова, Н. Б., Комолов, С. А., Лазнева, Э. Ф. & Бузин, И. С., 2010, в: ЖУРНАЛ ПРИКЛАДНОЙ ХИМИИ. 83, 5, стр. 783-788

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  4. Графическое правило для термодинамических величин

    Цуриков, Д. Е., 2010, в: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ. 1, стр. 165-167

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  5. Дифференциальная емкость полупроводниковой пленки

    Цуриков, Д. Е. & Яфясов, А. М., 2010, в: ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ. 44, 10, стр. 1336-1340

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  6. Индуцированное подложкой спин-орбитальное расщепление квантовых и интерфейсных состояний различной толщины на поверхностях W(110) и Mo(110)

    Шикин, А. М., Рыбкин, А. Г., Марченко, Д. Е., Усачёв, Д. Ю., Адамчук, В. К. & Варыхалов, А. Ю., 2010, в: ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА. 52, 7, стр. 1412-1422

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  7. Исследование системы германий C60 методами эффекта поля в электролите и инфракрасной спектроскопии

    Михайловский, В. Ю., Суханов, А. А. & Яфясов, А. М., 2010, в: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ. 1, стр. 74-78

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  8. Исследование стабильности структуры пористого кремния, полученного травлением Si(100) в водном растворе фторида аммония, спектроскопическими методами

    Филатова, Е. О., Лысенков, К. М., Соколов, А. А., Овчинников, А. А., Марченко, Д. Е., Кашкаров, В. М. & Назариков, И. В., 2010, в: ПИСЬМА В "ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ". 36, 3, стр. 53 - 59

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  9. Квантовые состояния как посредники в магнитном взаимодействии

    Шикин, А. М. & Радер, О., 2010, в: ПРИРОДА. 5, стр. 18-26

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

  10. Расчёт матрицы рассеяния элемента квантовой сети

    Цуриков, Д. Е. & Яфясов, А. М., 2010, в: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ. 1, стр. 156-161

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  11. Рентгеноспектроскопическое исследование тонких пленок HfO2 синтезированных на Si (100) методами ALD и MOCVD

    Соколов, А. А., Овчинников, А. А., Лысенков, К. М., Марченко, Д. Е. & Филатова, Е. О., 2010, в: ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ. 80, 7, стр. 131-136

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

ID: 31041