Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
Влияние центра EL2 на фотоотклик ансамбля радиальных нитевидных нанокристаллов GaAs/AlGaAs. / Григорьева, Н.Р.; Штром, И.В.; Григорьев, Р.В.; Сошников, И.П.; Резник, Р.Р.; Самсоненко, Ю.Б. ; Сибирёв, Н.В.; Цырлин, Г.Э.
In: ПИСЬМА В "ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ", Vol. 45, No. 16, 26.08.2019, p. 37-40.Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
}
TY - JOUR
T1 - Влияние центра EL2 на фотоотклик ансамбля радиальных нитевидных нанокристаллов GaAs/AlGaAs
AU - Григорьева, Н.Р.
AU - Штром, И.В.
AU - Григорьев, Р.В.
AU - Сошников, И.П.
AU - Резник, Р.Р.
AU - Самсоненко, Ю.Б.
AU - Сибирёв, Н.В.
AU - Цырлин, Г.Э.
PY - 2019/8/26
Y1 - 2019/8/26
N2 - Изучена роль EL2-центров в формировании фотоотклика ансамбля радиальных нитевидных нанокристаллов GaAs/AlxGa1-xAs (x = 0.3) n-типа, выращенных с помощью метода молекулярно-пучковой эпитаксии на кремниевой подложке p-типа. Обнаружено значительное уменьшение времени восстановления фотоотклика нитевидных нанокристаллов по сравнению с таковым для объемного кристалла при переходе EL2-центра из нефотоактивного в основное состояние. Ключевые слова: молекулярно-пучковая эпитаксия, полупроводники, нитевидные нанокристаллы, фотоэлектрические свойства, дефекты, арсенид галлия, кремний.
AB - Изучена роль EL2-центров в формировании фотоотклика ансамбля радиальных нитевидных нанокристаллов GaAs/AlxGa1-xAs (x = 0.3) n-типа, выращенных с помощью метода молекулярно-пучковой эпитаксии на кремниевой подложке p-типа. Обнаружено значительное уменьшение времени восстановления фотоотклика нитевидных нанокристаллов по сравнению с таковым для объемного кристалла при переходе EL2-центра из нефотоактивного в основное состояние. Ключевые слова: молекулярно-пучковая эпитаксия, полупроводники, нитевидные нанокристаллы, фотоэлектрические свойства, дефекты, арсенид галлия, кремний.
UR - http://journals.ioffe.ru/articles/48155
M3 - статья
VL - 45
SP - 37
EP - 40
JO - ПИСЬМА В "ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ"
JF - ПИСЬМА В "ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ"
SN - 0320-0116
IS - 16
ER -
ID: 45738480