TY - JOUR

T1 - Влияние вида функции распределения электронов в плазме и дисперсии по энергии электронного пучка на устойчивость низковольтного пучкового разряда

AU - Сухомлинов, В.С.

AU - Матвеев, Р.М.

AU - Мустафаев, А.С.

AU - Павлов, В. А

AU - Гордеев, С.В.

PY - 2021

Y1 - 2021

N2 - B рамках кинетического подхода исследованы условия потери устойчивости низковольтного пучкового разряда в инертных газах в зависимости от температуры электронного пучка, дисперсии скорости электронов пучка в направлении оси разряда и вида функции распределения электронов по энергиям (ФРЭ). Рассмотрены режимы, когда межэлектродное расстояние порядка длины пробега электронов относительно упругих столкновений с атомами инертного газа. Показано, что температура пучка Tb, определяемая в низковольтном пучковом разряде температурой катода, не превосходящей 1500 K, и дисперсия энергии электронов пучка, которая в разряде этого типа может быть существенно больше величины kTb, ) и достигает 1-2 eV, слабо влияют на условия потери устойчивости и величину инкремента усиления возмущений на частотах вплоть до плазменной. Обнаружено, что вид ФРЭ, монотонно падающей с увеличением энергии электронов, также не влияет на параметры распространяющихся в низковольтном пучковом разряде возмущений при энергии пучка много больше средней энергии электронов в плазме. Полученные результаты применимы не только к разряду этого типа, но и другим видам самостоятельных пучковых разрядов. Ключевые слова: низковольтный пучковый разряд, плазменные неустойчивости, системы электронный пучок-плазма, функция распределения электронов.

AB - B рамках кинетического подхода исследованы условия потери устойчивости низковольтного пучкового разряда в инертных газах в зависимости от температуры электронного пучка, дисперсии скорости электронов пучка в направлении оси разряда и вида функции распределения электронов по энергиям (ФРЭ). Рассмотрены режимы, когда межэлектродное расстояние порядка длины пробега электронов относительно упругих столкновений с атомами инертного газа. Показано, что температура пучка Tb, определяемая в низковольтном пучковом разряде температурой катода, не превосходящей 1500 K, и дисперсия энергии электронов пучка, которая в разряде этого типа может быть существенно больше величины kTb, ) и достигает 1-2 eV, слабо влияют на условия потери устойчивости и величину инкремента усиления возмущений на частотах вплоть до плазменной. Обнаружено, что вид ФРЭ, монотонно падающей с увеличением энергии электронов, также не влияет на параметры распространяющихся в низковольтном пучковом разряде возмущений при энергии пучка много больше средней энергии электронов в плазме. Полученные результаты применимы не только к разряду этого типа, но и другим видам самостоятельных пучковых разрядов. Ключевые слова: низковольтный пучковый разряд, плазменные неустойчивости, системы электронный пучок-плазма, функция распределения электронов.

UR - https://www.mendeley.com/catalogue/dc5c8c96-3d1c-3b5c-88a5-089984f89d68/

U2 - 10.21883/JTF.2021.04.50620.286-20

DO - 10.21883/JTF.2021.04.50620.286-20

M3 - статья

VL - 91

SP - 579

EP - 588

JO - ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ

JF - ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ

SN - 0044-4642

IS - 4

ER -