Standard

Энергетическая фильтрация вторичных и обратнорассеянных электронов методом задерживающего потенциала в растровой электронной и ионной микроскопии. / Михайловский, В.Ю.; Петров, Ю.В.; Вывенко, О.Ф.

In: ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ, No. 2, 2015, p. 93-99.

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Harvard

Михайловский, ВЮ, Петров, ЮВ & Вывенко, ОФ 2015, 'Энергетическая фильтрация вторичных и обратнорассеянных электронов методом задерживающего потенциала в растровой электронной и ионной микроскопии', ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ, no. 2, pp. 93-99.

APA

Михайловский, В. Ю., Петров, Ю. В., & Вывенко, О. Ф. (2015). Энергетическая фильтрация вторичных и обратнорассеянных электронов методом задерживающего потенциала в растровой электронной и ионной микроскопии. ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ, (2), 93-99.

Vancouver

Михайловский ВЮ, Петров ЮВ, Вывенко ОФ. Энергетическая фильтрация вторичных и обратнорассеянных электронов методом задерживающего потенциала в растровой электронной и ионной микроскопии. ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. 2015;(2):93-99.

Author

Михайловский, В.Ю. ; Петров, Ю.В. ; Вывенко, О.Ф. / Энергетическая фильтрация вторичных и обратнорассеянных электронов методом задерживающего потенциала в растровой электронной и ионной микроскопии. In: ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. 2015 ; No. 2. pp. 93-99.

BibTeX

@article{38b8129b4bdb48fa8553ac472ad61796,
title = "Энергетическая фильтрация вторичных и обратнорассеянных электронов методом задерживающего потенциала в растровой электронной и ионной микроскопии",
author = "В.Ю. Михайловский and Ю.В. Петров and О.Ф. Вывенко",
year = "2015",
language = "не определен",
pages = "93--99",
journal = "ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ",
issn = "1027-4510",
publisher = "МАИК {"}Наука/Интерпериодика{"}",
number = "2",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Энергетическая фильтрация вторичных и обратнорассеянных электронов методом задерживающего потенциала в растровой электронной и ионной микроскопии

AU - Михайловский, В.Ю.

AU - Петров, Ю.В.

AU - Вывенко, О.Ф.

PY - 2015

Y1 - 2015

M3 - статья

SP - 93

EP - 99

JO - ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ

JF - ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ

SN - 1027-4510

IS - 2

ER -

ID: 5764244