Ссылки

Разработан новый метод контроля состава диэлектрических монокристаллов
на основе масс-спектрометрии тлеющего разряда. Изучено изменение
состава кристаллов вдоль направлений роста. Показана взаимосвязь
электрохимических и электрооптических свойств с распределением
основных и примесных компонентов в кристалле.
Язык оригиналарусский
Название основной публикацииСборник трудов XI Международной конференции «Фундаментальные проблемы оптики – 2019»
РедакторыС.А. Козлова
Место публикацииСПб.
ИздательНИУ ИТМО
Страницы355-356
ISBN (электронное издание)9785757706078
СостояниеОпубликовано - окт 2019
СобытиеVI Международная конференция "Фундаментальные проблемы оптики" - Санкт-Петербург, Российская Федерация
Продолжительность: 18 окт 2010 → 22 окт 2010

конференция

конференцияVI Международная конференция "Фундаментальные проблемы оптики"
Страна/TерриторияРоссийская Федерация
ГородСанкт-Петербург
Период18/10/10 → 22/10/10

ID: 49068450