Standard

ИССЛЕДОВАНИЕ НИЖНИХ ЭЛЕКТРОННЫХ СОСТОЯНИЙ МОЛЕКУЛ XE 2, XEKR, XEAR МЕТОДОМ РЕЗОНАНСНОЙ МНОГОФОТОННОЙ ИОНИЗАЦИИ. / Ходорковский, М. А.; Беляева, А. А.; Ракчеева, Л. П.; Сердобинцев, П. Ю.; Пастор, А. А.; Мельников, А. С.; Тимофеев, Н. А.; Hallin, R.; Siegbahn, K.

в: ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ, Том 104, № 5, 2008, стр. 748-759.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

Harvard

Ходорковский, МА, Беляева, АА, Ракчеева, ЛП, Сердобинцев, ПЮ, Пастор, АА, Мельников, АС, Тимофеев, НА, Hallin, R & Siegbahn, K 2008, 'ИССЛЕДОВАНИЕ НИЖНИХ ЭЛЕКТРОННЫХ СОСТОЯНИЙ МОЛЕКУЛ XE 2, XEKR, XEAR МЕТОДОМ РЕЗОНАНСНОЙ МНОГОФОТОННОЙ ИОНИЗАЦИИ', ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ, Том. 104, № 5, стр. 748-759. https://doi.org/10.1134/S0030403408050061

APA

Ходорковский, М. А., Беляева, А. А., Ракчеева, Л. П., Сердобинцев, П. Ю., Пастор, А. А., Мельников, А. С., Тимофеев, Н. А., Hallin, R., & Siegbahn, K. (2008). ИССЛЕДОВАНИЕ НИЖНИХ ЭЛЕКТРОННЫХ СОСТОЯНИЙ МОЛЕКУЛ XE 2, XEKR, XEAR МЕТОДОМ РЕЗОНАНСНОЙ МНОГОФОТОННОЙ ИОНИЗАЦИИ. ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ, 104(5), 748-759. https://doi.org/10.1134/S0030403408050061

Vancouver

Ходорковский МА, Беляева АА, Ракчеева ЛП, Сердобинцев ПЮ, Пастор АА, Мельников АС и пр. ИССЛЕДОВАНИЕ НИЖНИХ ЭЛЕКТРОННЫХ СОСТОЯНИЙ МОЛЕКУЛ XE 2, XEKR, XEAR МЕТОДОМ РЕЗОНАНСНОЙ МНОГОФОТОННОЙ ИОНИЗАЦИИ. ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ. 2008;104(5):748-759. https://doi.org/10.1134/S0030403408050061

Author

Ходорковский, М. А. ; Беляева, А. А. ; Ракчеева, Л. П. ; Сердобинцев, П. Ю. ; Пастор, А. А. ; Мельников, А. С. ; Тимофеев, Н. А. ; Hallin, R. ; Siegbahn, K. / ИССЛЕДОВАНИЕ НИЖНИХ ЭЛЕКТРОННЫХ СОСТОЯНИЙ МОЛЕКУЛ XE 2, XEKR, XEAR МЕТОДОМ РЕЗОНАНСНОЙ МНОГОФОТОННОЙ ИОНИЗАЦИИ. в: ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ. 2008 ; Том 104, № 5. стр. 748-759.

BibTeX

@article{ae88fa01050842c89bbc636cc788c3be,
title = "ИССЛЕДОВАНИЕ НИЖНИХ ЭЛЕКТРОННЫХ СОСТОЯНИЙ МОЛЕКУЛ XE 2, XEKR, XEAR МЕТОДОМ РЕЗОНАНСНОЙ МНОГОФОТОННОЙ ИОНИЗАЦИИ",
abstract = "В случае трехфотонного возбуждения зарегистрированы уширение и сдвиг всех полос в спектре молекул XeKr и XeAr, что указывает на существенное влияние динамического эффекта Штарка в интенсивном световом поле.",
author = "Ходорковский, {М. А.} and Беляева, {А. А.} and Ракчеева, {Л. П.} and Сердобинцев, {П. Ю.} and Пастор, {А. А.} and Мельников, {А. С.} and Тимофеев, {Н. А.} and R. Hallin and K. Siegbahn",
year = "2008",
doi = "10.1134/S0030403408050061",
language = "русский",
volume = "104",
pages = "748--759",
journal = "ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ",
issn = "0030-4034",
publisher = "Международная книга",
number = "5",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - ИССЛЕДОВАНИЕ НИЖНИХ ЭЛЕКТРОННЫХ СОСТОЯНИЙ МОЛЕКУЛ XE 2, XEKR, XEAR МЕТОДОМ РЕЗОНАНСНОЙ МНОГОФОТОННОЙ ИОНИЗАЦИИ

AU - Ходорковский, М. А.

AU - Беляева, А. А.

AU - Ракчеева, Л. П.

AU - Сердобинцев, П. Ю.

AU - Пастор, А. А.

AU - Мельников, А. С.

AU - Тимофеев, Н. А.

AU - Hallin, R.

AU - Siegbahn, K.

PY - 2008

Y1 - 2008

N2 - В случае трехфотонного возбуждения зарегистрированы уширение и сдвиг всех полос в спектре молекул XeKr и XeAr, что указывает на существенное влияние динамического эффекта Штарка в интенсивном световом поле.

AB - В случае трехфотонного возбуждения зарегистрированы уширение и сдвиг всех полос в спектре молекул XeKr и XeAr, что указывает на существенное влияние динамического эффекта Штарка в интенсивном световом поле.

U2 - 10.1134/S0030403408050061

DO - 10.1134/S0030403408050061

M3 - статья

VL - 104

SP - 748

EP - 759

JO - ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ

JF - ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ

SN - 0030-4034

IS - 5

ER -

ID: 5009284