Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная
Низкотемпературный синтез графена на пленке Ni различной толщины: электронная структура, интеркаляция Au, СТМ измерения. / Пудиков, Д.А.; Жижин, Е.В.; Рыбкин, А.Г.; Петухов, А.Е.; Шикин, А.М.
Нанофизика и наноэлектроника: Труды XX Международного симпозиума. В 2 т. . Том 1 Нижний-Новгород : Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, 2016. стр. 316-317.Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная
}
TY - GEN
T1 - Низкотемпературный синтез графена на пленке Ni различной толщины: электронная структура, интеркаляция Au, СТМ измерения
AU - Пудиков, Д.А.
AU - Жижин, Е.В.
AU - Рыбкин, А.Г.
AU - Петухов, А.Е.
AU - Шикин, А.М.
PY - 2016
Y1 - 2016
N2 - Исследован процесс формирования графена на поверхности тонкой пленки Ni на подложке высокоориентированного пиролитического графита. Показано, что образование графена проходит через фазу поверхностного карбида никеля со стехиометрией Ni2C, формирующегося уже при температуре 180°C. Карбидная фаза при последующем нагреве трансформируется в графеновый монослой, сильно связанный с поверхностью.
AB - Исследован процесс формирования графена на поверхности тонкой пленки Ni на подложке высокоориентированного пиролитического графита. Показано, что образование графена проходит через фазу поверхностного карбида никеля со стехиометрией Ni2C, формирующегося уже при температуре 180°C. Карбидная фаза при последующем нагреве трансформируется в графеновый монослой, сильно связанный с поверхностью.
M3 - статья в сборнике материалов конференции
SN - 978-5-91326-378-0
VL - 1
SP - 316
EP - 317
BT - Нанофизика и наноэлектроника
PB - Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского
CY - Нижний-Новгород
T2 - XX Международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника»
Y2 - 14 March 2016 through 18 March 2016
ER -
ID: 7630084