Результаты исследований: Книги, отчёты, сборники › отчёт/доклад › научная
Моделирование свойств однократно отрицательно заряженных In(1-x)Ga(x)As квантовых точек путем исследования электронных характеристик отрицательных ионов In(1-x)Ga(x)As-нанокластеров методами стационарной, неограниченной по спину теории функционала плотности. / Чижов, Ю.В.; Крауклис, И.В.
Издательский Центр «Академия», 2011. 5 стр.Результаты исследований: Книги, отчёты, сборники › отчёт/доклад › научная
}
TY - BOOK
T1 - Моделирование свойств однократно отрицательно заряженных In(1-x)Ga(x)As квантовых точек путем исследования электронных характеристик отрицательных ионов In(1-x)Ga(x)As-нанокластеров методами стационарной, неограниченной по спину теории функционала плотности
AU - Чижов, Ю.В.
AU - Крауклис, И.В.
PY - 2011
Y1 - 2011
M3 - отчёт/доклад
BT - Моделирование свойств однократно отрицательно заряженных In(1-x)Ga(x)As квантовых точек путем исследования электронных характеристик отрицательных ионов In(1-x)Ga(x)As-нанокластеров методами стационарной, неограниченной по спину теории функционала плотности
PB - Издательский Центр «Академия»
ER -
ID: 4293687