Качественный анализ методом ДМЭ-I(V) для определения структурных характеристик синтезированных систем требует обработки профилей по интенсивности с большого числа ДМЭ-изображений. Таким образом, для обработки десятков, а то и сотен снимков возникает необходимость автоматизации процесса получения и анализа профилей, в том числе для минимизации ошибок, полученных при «ручной» обработке. Предлагаемый программный комплекс предназначен для автоматизации обработки ДМЭ-изображений (в форматах JPG, JPEG). Для построения ДМЭ–I(V) измеряются интенсивности (I) рассеянных электронных пучков в зависимости от энергии первичных электронов, которая изменяется с помощью ускоряющего напряжения (V). Предлагаемый программный пакет предназначен для решения комплексной задачи точного построения I(V)-кривых. Это достигается за счёт автоматического отслеживания положения дифракционных рефлексов на сериях экспериментальных изображений, количество которых в рамках одного эксперимента может составлять от десятков до сотен. Комплекс обеспечивает автоматическую загрузку данных, идентификацию и отслеживание дифракционных рефлексов, построение профилей интенсивности рефлексов, проведение аппроксимации полученных профилей и построение итоговых I(V)-зависимостей. Преимущества: полная автоматизация трудоёмкого процесса, высокая скорость обработки, исключение субъективных ошибок и обеспечение высокой степени воспроизводимости результатов.