Изучены особенности миграции гелия из кристаллической решетки сульфидов (пирита, пирротина, халькопирита, борнита, сфалерита) и сульфосолей (теннантита и тетраэдрита). Показано, что источником гелия в этих минералах являются субмикронные включения уран- и торийсодержащих минералов. Полученные методом ступенчатого отжига кривые термодесорбции гелия из сульфидов и сульфосолей обработаны, исходя из представлений об односкачковой модели миграции. В результате интерпретации этих данных обоснован вывод о возможности U-Th-He датирования пирита. Показано, что миграционные параметры гелия в других изученных сульфидах и сульфосолях не позволяют рассматривать их как потенциальные U-Th-He минералы-геохронометры. На основании сопоставления данных о миграции гелия в разных минералах высказано предположение, что причина высокой сохранности гелия в некоторых сульфидах и арсенидах (пирите и сперрилите) связана с типом их кристаллической решетки, плотностью упаковки атомов и величиной удельного электрического сопротивления.