Standard

МНОГОСЛОЙНЫЕ ИОН-ПРОВОЛЯЩИЕ ПЛЕНКИ НА ОСНОВЕ ЧЕРЕДУЮЩИХСЯ НАНОСЛОЕВ AG 3 SI, AGI И AG 2 S, AGL. / Тверьянович, Ю. С.; Бальмаков, М. Д.; Томаев, В. В.; Борисов, Е. П.; Волобуева, О.

в: ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА, № 2, 2008, стр. 196-202.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

Harvard

APA

Vancouver

Author

Тверьянович, Ю. С. ; Бальмаков, М. Д. ; Томаев, В. В. ; Борисов, Е. П. ; Волобуева, О. / МНОГОСЛОЙНЫЕ ИОН-ПРОВОЛЯЩИЕ ПЛЕНКИ НА ОСНОВЕ ЧЕРЕДУЮЩИХСЯ НАНОСЛОЕВ AG 3 SI, AGI И AG 2 S, AGL. в: ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА. 2008 ; № 2. стр. 196-202.

BibTeX

@article{eda8cdb174374b44acbee38d2aa97d3f,
title = "МНОГОСЛОЙНЫЕ ИОН-ПРОВОЛЯЩИЕ ПЛЕНКИ НА ОСНОВЕ ЧЕРЕДУЮЩИХСЯ НАНОСЛОЕВ AG 3 SI, AGI И AG 2 S, AGL",
abstract = "Методом лазерной абляции получены многослойные пленки двух видов: с чередующимися нанослоями Ag2S и AgI, а также Ag3SI и Agl. Методом импедансной спектроскопии исследована проводимость пленочных образцов. Проведено электронно-микроскопическое исследование торцов излома многослойных пленок.",
author = "Тверьянович, {Ю. С.} and Бальмаков, {М. Д.} and Томаев, {В. В.} and Борисов, {Е. П.} and О. Волобуева",
year = "2008",
language = "русский",
pages = "196--202",
journal = "ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА",
issn = "0132-6651",
publisher = "Издательство {"}Наука{"}",
number = "2",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - МНОГОСЛОЙНЫЕ ИОН-ПРОВОЛЯЩИЕ ПЛЕНКИ НА ОСНОВЕ ЧЕРЕДУЮЩИХСЯ НАНОСЛОЕВ AG 3 SI, AGI И AG 2 S, AGL

AU - Тверьянович, Ю. С.

AU - Бальмаков, М. Д.

AU - Томаев, В. В.

AU - Борисов, Е. П.

AU - Волобуева, О.

PY - 2008

Y1 - 2008

N2 - Методом лазерной абляции получены многослойные пленки двух видов: с чередующимися нанослоями Ag2S и AgI, а также Ag3SI и Agl. Методом импедансной спектроскопии исследована проводимость пленочных образцов. Проведено электронно-микроскопическое исследование торцов излома многослойных пленок.

AB - Методом лазерной абляции получены многослойные пленки двух видов: с чередующимися нанослоями Ag2S и AgI, а также Ag3SI и Agl. Методом импедансной спектроскопии исследована проводимость пленочных образцов. Проведено электронно-микроскопическое исследование торцов излома многослойных пленок.

M3 - статья

SP - 196

EP - 202

JO - ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА

JF - ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА

SN - 0132-6651

IS - 2

ER -

ID: 5026499