TY - PAT

T1 - Программа для расчета напряженного состояния и оценки морфологической устойчивости наноразмерных топологических дефектов на поверхности ультратонкого пленочного покрытия (STS-UTF)

AU - Шувалов, Глеб Михайлович

AU - Греков, Михаил Александрович

AU - Костырко, Сергей Алексеевич

PY - 2023/11/8

Y1 - 2023/11/8

N2 - Программа предназначена для расчёта механических напряжений вблизи наноструткурированных поверхностей ультратонких плёночных покрытий, находящихся в условиях плоской деформации, а также для анализа морфологической устойчивости их поверхностей. В программе реализован теоретический подход, основанный на модели поверхностной упругости Гёртина - Мёрдока и модели морфологической неустойчивости Асаро - Тиллера - Гринфельда. Линейный анализ морфологической устойчивости определяет условия, приводящие к росту топологических дефектов на поверхности плёнки. Эти условия зависят от таких факторов, как исходная форма и длина волны искривления, напряжения несоответствия, а также упругие свойства материалов плёнки и подложки, свободной и межфазной границ. С помощью программы можно выполнить расчёт тензора напряжений при одноосном растяжении или сжатии, а также провести анализ морфологической устойчивости поверхности ультратонкого плёночного покрытия. К преимуществам программы относятся: детальный вывод комплексных потенциалов; свободная поверхность может быть описана произвольной периодической функцией; возможность выполнения анализа влияния физических и геометрических параметров на рост рельефа свободной поверхности ультратонкого плёночного покрытия.

AB - Программа предназначена для расчёта механических напряжений вблизи наноструткурированных поверхностей ультратонких плёночных покрытий, находящихся в условиях плоской деформации, а также для анализа морфологической устойчивости их поверхностей. В программе реализован теоретический подход, основанный на модели поверхностной упругости Гёртина - Мёрдока и модели морфологической неустойчивости Асаро - Тиллера - Гринфельда. Линейный анализ морфологической устойчивости определяет условия, приводящие к росту топологических дефектов на поверхности плёнки. Эти условия зависят от таких факторов, как исходная форма и длина волны искривления, напряжения несоответствия, а также упругие свойства материалов плёнки и подложки, свободной и межфазной границ. С помощью программы можно выполнить расчёт тензора напряжений при одноосном растяжении или сжатии, а также провести анализ морфологической устойчивости поверхности ультратонкого плёночного покрытия. К преимуществам программы относятся: детальный вывод комплексных потенциалов; свободная поверхность может быть описана произвольной периодической функцией; возможность выполнения анализа влияния физических и геометрических параметров на рост рельефа свободной поверхности ультратонкого плёночного покрытия.

UR - https://new.fips.ru/registers-doc-view/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2023683568&TypeFile=html

M3 - свидетельство о регистрации

M1 - 2023683568

Y2 - 2023/10/30

PB - Федеральная служба по интеллектуальной собственности

ER -