Standard

Анализ структурных континуумов связанно–свободных электронных переходов двухатомных молекул методом обращения возмущений. Электронный момент перехода. / Иванов, В. С.; Совков, В. Б.

в: ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ, Том 83, № 1, 1997, стр. 69—72.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Harvard

Иванов, ВС & Совков, ВБ 1997, 'Анализ структурных континуумов связанно–свободных электронных переходов двухатомных молекул методом обращения возмущений. Электронный момент перехода.', ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ, Том. 83, № 1, стр. 69—72.

APA

Иванов, В. С., & Совков, В. Б. (1997). Анализ структурных континуумов связанно–свободных электронных переходов двухатомных молекул методом обращения возмущений. Электронный момент перехода. ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ, 83(1), 69—72.

Vancouver

Иванов ВС, Совков ВБ. Анализ структурных континуумов связанно–свободных электронных переходов двухатомных молекул методом обращения возмущений. Электронный момент перехода. ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ. 1997;83(1):69—72.

Author

Иванов, В. С. ; Совков, В. Б. / Анализ структурных континуумов связанно–свободных электронных переходов двухатомных молекул методом обращения возмущений. Электронный момент перехода. в: ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ. 1997 ; Том 83, № 1. стр. 69—72.

BibTeX

@article{0f98d520b65c4931b2ce30f60f26b771,
title = "Анализ структурных континуумов связанно–свободных электронных переходов двухатомных молекул методом обращения возмущений. Электронный момент перехода.",
author = "Иванов, {В. С.} and Совков, {В. Б.}",
year = "1997",
language = "русский",
volume = "83",
pages = "69—72",
journal = "ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ",
issn = "0030-4034",
publisher = "Международная книга",
number = "1",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Анализ структурных континуумов связанно–свободных электронных переходов двухатомных молекул методом обращения возмущений. Электронный момент перехода.

AU - Иванов, В. С.

AU - Совков, В. Б.

PY - 1997

Y1 - 1997

M3 - статья

VL - 83

SP - 69—72

JO - ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ

JF - ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ

SN - 0030-4034

IS - 1

ER -

ID: 5423345