Рассматривается влияние интенсивности ультракороткого рентгеновского импульса на деградацию электронной плотности молекулы водорода и на картину дифракции рентгеновской волны. Для решения задачи используется разработанный ранее квазиклассический траекторный метод. Приводятся
результаты расчёта автокорреляционных функций электронных плотностей для нескольких межъядерных расстояний.
Переведенное названиеEVALUATION OF THE DIFFRACTION PATTERN DEGRADATION IN THE HIGH-POWER ULTRASHORT X-RAY RADIATION FOR THE HYDROGEN MOLECULE
Язык оригиналарусский
Название основной публикацииVIII Международная конференция по фотонике и информационной оптике
Подзаголовок основной публикацииСборник научных трудов
РедакторыВ.Г. Родин
Место публикацииМ.
ИздательМИФИ
Страницы513-514
ISBN (печатное издание)9785726225364
СостояниеОпубликовано - 2019
СобытиеVIII Международная конференция по фотонике и информационной оптике - НИЯУ МИФИ, Москва, Российская Федерация
Продолжительность: 23 янв 2019 → 25 янв 2019
Номер конференции: VIII
http://fioconf.mephi.ru

конференция

конференцияVIII Международная конференция по фотонике и информационной оптике
Страна/TерриторияРоссийская Федерация
ГородМосква
Период23/01/19 → 25/01/19
Сайт в сети Internet

ID: 51863711