Описывается метод построения моделей входных воздействий для тестирования цифровых устройств. Метод использует выявленные экспертом в схеме устройства типовые функциональные узлы - логические интерфейсы. Предлагается строить входные воздействия в виде набора типовых операций, присущих каждому логическому интерфейсу. Рассматриваются типы логических интерфейсов, структура и возможный вариант их программной реализации.
