Standard

Моделирование сложных цифровых устройств с целью их тестирования. / Мащинский, Н.С.; Елаев, Е.В.; Федюкович, П.А.

в: Процессы управления и устойчивость, 2015, стр. 452-457.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

Harvard

Мащинский, НС, Елаев, ЕВ & Федюкович, ПА 2015, 'Моделирование сложных цифровых устройств с целью их тестирования', Процессы управления и устойчивость, стр. 452-457.

APA

Мащинский, Н. С., Елаев, Е. В., & Федюкович, П. А. (2015). Моделирование сложных цифровых устройств с целью их тестирования. Процессы управления и устойчивость, 452-457.

Vancouver

Мащинский НС, Елаев ЕВ, Федюкович ПА. Моделирование сложных цифровых устройств с целью их тестирования. Процессы управления и устойчивость. 2015;452-457.

Author

Мащинский, Н.С. ; Елаев, Е.В. ; Федюкович, П.А. / Моделирование сложных цифровых устройств с целью их тестирования. в: Процессы управления и устойчивость. 2015 ; стр. 452-457.

BibTeX

@article{0f5449268d5a4eecb0c1e9cb4a3a9bf5,
title = "Моделирование сложных цифровых устройств с целью их тестирования",
author = "Н.С. Мащинский and Е.В. Елаев and П.А. Федюкович",
year = "2015",
language = "не определен",
pages = "452--457",
journal = "Процессы управления и устойчивость",
issn = "2313-7304",
publisher = "Смирнов Николай Васильевич",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Моделирование сложных цифровых устройств с целью их тестирования

AU - Мащинский, Н.С.

AU - Елаев, Е.В.

AU - Федюкович, П.А.

PY - 2015

Y1 - 2015

M3 - статья

SP - 452

EP - 457

JO - Процессы управления и устойчивость

JF - Процессы управления и устойчивость

SN - 2313-7304

ER -

ID: 5794467