Результаты

1. The Nernst effect in Corbino geometry

   Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

2. Combined DLTS/MCTS investigations of deep electrical levels of regular dislocation networks in silicon

   Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья в журнале по материалам конференции › Рецензирование

Просмотреть все (2) »