1. 2017
  2. Differential expression of CD42b and CD9 proteins in platelets and extracellular membrane vesicles during platelet-concentrate storage

    Kishenko, V. V., Kondratov, K. A., Belyakova, M. V., Mikhailovskii, V. Y., Sidorkevich, S. V., Vavilova, T. V., Fedorov, A. V. & Sirotkina, O. V., 2017, в: Cell and Tissue Biology. 11, 6, стр. 440-446 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Exciton mass increase in a GaAs/AlGaAs quantum well in a transverse magnetic field

    Bodnar, S. Y., Grigoryev, P. S., Loginov, D. K., Davydov, V. G., Efimov, Y. P., Eliseev, S. A., Lovtcius, V. A., Ubyivovk, E. V., Mikhailovskii, V. Y. & Ignatiev, I. V., 2017, в: Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics. 95, стр. 195311

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  4. Атомная конфигурация и зарядовое состояние водорода на дислокациях

    Высоцкий, Н. В., Лошаченко, А. С. & Вывенко, О. Ф., 2017, в: ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ. 51, 3, стр. 305-310 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  5. Новый механизм поляризации полупроводника на интерфейсе с органическим диэлектриком

    Яфясов, А. М., Божевольнов, В. Б., Рюмцев, Е. И., Ковшик, А. П. & Михайловский, В. Ю., 2017, в: ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ. 51, 2, стр. 202-204

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  6. 2016
  7. Electrical characterization and defect-related luminescence in oxygen implanted silicon

    Danilov, D. V., Vyvenko, O. F., Sobolev, N. A., Vdovin, V. I., Loshachenko, A. S., Shek, E. I., Aruev, P. N. & Zabrodskiy, V. V., 1 янв 2016, в: Solid State Phenomena. 242, стр. 368-373 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  8. Plasmon-enhanced Electron Scattering in Nanostructured Thin Metal Films Revealed by Low-voltage Scanning Electron Microscopy

    Mikhailovskii, V., Petrov, Y. & Vyvenko, O., 2016, в: AIP Conference Proceedings. 1748, 1, 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья в журнале по материалам конференции

  9. Raman spectroscopy of monoatomic hydrogen at dislocations in silicon

    Vysotskii, N., Loshachenko, A., Borisov, E. & Vyvenko, O., 2016, в: Journal of Physics: Conference Series. 690, 1, стр. 012004

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  10. Recombination-Related Properties of a-Screw Dislocations in GaN: A Combined CL, EBIC, TEM Study

    Medvedev, O. S., Vyvenko, O. F., Bondarenko, A. S., Mikhailovskii, V. Y., Ubyivovk, E. V., Peretzki, P. & Seibt, M., 2016, в: AIP Conference Proceedings. 1748, 1, 7 стр., 020011.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья в журнале по материалам конференцииРецензирование

  11. Structural and Electrical Properties of AlN Layers Grown on Silicon by Reactive RF Magnetron Sputtering

    Bazlov, N., Pilipenko, N., Vyvenko, O., Kotina, I., Petrov, Y., Mikhailovskii, V., Ubyivovk, E. & Zharinov, V., 2016, Structural and Electrical Properties of AlN Layers Grown on Silicon by Reactive RF Magnetron Sputtering. American Institute of Physics, 9 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  12. The Modification of the Structure of Multilayer Co/Pt Films by the Irradiation with a Focused Helium Ion Beam

    Gusev, S. A., Drozdov, M. N., Ermolaeva, O. L., Fraerman, A. A., Gusev, N. S., Mikhailovskii, V. Y., Petrov, Y. V., Sapozhnikov, M. V. & Vdovichev, S. N., 2016, The Modification of the Structure of Multilayer Co/Pt Films by the Irradiation with a Focused Helium Ion Beam. American Institute of Physics, 7 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

ID: 60526