Standard

Hochtemperaturdiffraktometrie von Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis. / Filatov, S. K.; Frank‐Kamenetzkij, V. A.

In: Kristall und Technik, Vol. 2, No. 4, 01.01.1967, p. 577-590.

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Harvard

Filatov, SK & Frank‐Kamenetzkij, VA 1967, 'Hochtemperaturdiffraktometrie von Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis', Kristall und Technik, vol. 2, no. 4, pp. 577-590. https://doi.org/10.1002/crat.19670020415

APA

Filatov, S. K., & Frank‐Kamenetzkij, V. A. (1967). Hochtemperaturdiffraktometrie von Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis. Kristall und Technik, 2(4), 577-590. https://doi.org/10.1002/crat.19670020415

Vancouver

Filatov SK, Frank‐Kamenetzkij VA. Hochtemperaturdiffraktometrie von Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis. Kristall und Technik. 1967 Jan 1;2(4):577-590. https://doi.org/10.1002/crat.19670020415

Author

Filatov, S. K. ; Frank‐Kamenetzkij, V. A. / Hochtemperaturdiffraktometrie von Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis. In: Kristall und Technik. 1967 ; Vol. 2, No. 4. pp. 577-590.

BibTeX

@article{b086bca437ba423b96620bd26ac29514,
title = "Hochtemperaturdiffraktometrie von Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis",
abstract = "Es wird eine Methode zur Hochtemperaturdiffraktometrie (bis 1300 °C) monokliner Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis beschrieben. Beispiele werden angef{\"u}hrt. Besondere Aufmerksamkeit gilt der Genauigkeit der Indizierung der Debye–Scherrer‐Aufnahmen und der Absch{\"a}tzung der Fehler bei der Bestimmung der Parameter nach einer vereinfachten Methode. Die Bedingungen f{\"u}r die Hochtemperaturdiffraktometrie tetragonaler und kubischer Materialien auf ZrO2‐Basis werden er{\"o}rtert.",
author = "Filatov, {S. K.} and Frank‐Kamenetzkij, {V. A.}",
year = "1967",
month = jan,
day = "1",
doi = "10.1002/crat.19670020415",
language = "немецкий",
volume = "2",
pages = "577--590",
journal = "Crystal Research and Technology",
issn = "0232-1300",
publisher = "Wiley-Blackwell",
number = "4",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Hochtemperaturdiffraktometrie von Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis

AU - Filatov, S. K.

AU - Frank‐Kamenetzkij, V. A.

PY - 1967/1/1

Y1 - 1967/1/1

N2 - Es wird eine Methode zur Hochtemperaturdiffraktometrie (bis 1300 °C) monokliner Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis beschrieben. Beispiele werden angeführt. Besondere Aufmerksamkeit gilt der Genauigkeit der Indizierung der Debye–Scherrer‐Aufnahmen und der Abschätzung der Fehler bei der Bestimmung der Parameter nach einer vereinfachten Methode. Die Bedingungen für die Hochtemperaturdiffraktometrie tetragonaler und kubischer Materialien auf ZrO2‐Basis werden erörtert.

AB - Es wird eine Methode zur Hochtemperaturdiffraktometrie (bis 1300 °C) monokliner Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis beschrieben. Beispiele werden angeführt. Besondere Aufmerksamkeit gilt der Genauigkeit der Indizierung der Debye–Scherrer‐Aufnahmen und der Abschätzung der Fehler bei der Bestimmung der Parameter nach einer vereinfachten Methode. Die Bedingungen für die Hochtemperaturdiffraktometrie tetragonaler und kubischer Materialien auf ZrO2‐Basis werden erörtert.

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=84981751815&partnerID=8YFLogxK

U2 - 10.1002/crat.19670020415

DO - 10.1002/crat.19670020415

M3 - статья

AN - SCOPUS:84981751815

VL - 2

SP - 577

EP - 590

JO - Crystal Research and Technology

JF - Crystal Research and Technology

SN - 0232-1300

IS - 4

ER -

ID: 39357412