Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
Наноразмерные пленки Cu2O: формирование методом ВЧ-магнетронного распыления, исследование структурных и оптических свойств. / Кудряшов, Д.А.; Гудовских, А.С.; Бабичев, А.В.; Филимонов, А.В.; Можаров, А.М.; Агекян, В.Ф.; Борисов, Е.В.; Серов, А.Ю.; Философов, Н.Г.
In: ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ, Vol. 51, No. 1, 2017, p. 111-115.Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
}
TY - JOUR
T1 - Наноразмерные пленки Cu2O: формирование методом ВЧ-магнетронного распыления, исследование структурных и оптических свойств
AU - Кудряшов, Д.А.
AU - Гудовских, А.С.
AU - Бабичев, А.В.
AU - Филимонов, А.В.
AU - Можаров, А.М.
AU - Агекян, В.Ф.
AU - Борисов, Е.В.
AU - Серов, А.Ю.
AU - Философов, Н.Г.
PY - 2017
Y1 - 2017
N2 - Методом магнетронного распыления сформированы наноразмерные слои оксида меди (I) на стеклянных и кремниевых подложках при комнатной температуре в бескислородной среде и проведены исследования их структурных и оптических свойств. Показано, что на кремниевой подложке происходит формирование оксида меди с меньшей разупорядоченностью, нежели на стекле, это подтверждается большей интенсивностью и меньшей полушириной рефлексов дифрактометрической кривой. Наибольшая интенсивность рефлексов дифрактометрической кривой наблюдается для пленок Cu2O, выращенных на кремнии при мощности магнетрона 150 Вт. Спектральная зависимость коэффициентов поглощения и пропускания этих же пленок Cu2O согласуется с известными зависимостями для объемных кристаллов. В рамановских спектрах пленок идентифицированы фононы, соответствующие кристаллической решетке кубических кристаллов Cu2O.
AB - Методом магнетронного распыления сформированы наноразмерные слои оксида меди (I) на стеклянных и кремниевых подложках при комнатной температуре в бескислородной среде и проведены исследования их структурных и оптических свойств. Показано, что на кремниевой подложке происходит формирование оксида меди с меньшей разупорядоченностью, нежели на стекле, это подтверждается большей интенсивностью и меньшей полушириной рефлексов дифрактометрической кривой. Наибольшая интенсивность рефлексов дифрактометрической кривой наблюдается для пленок Cu2O, выращенных на кремнии при мощности магнетрона 150 Вт. Спектральная зависимость коэффициентов поглощения и пропускания этих же пленок Cu2O согласуется с известными зависимостями для объемных кристаллов. В рамановских спектрах пленок идентифицированы фононы, соответствующие кристаллической решетке кубических кристаллов Cu2O.
U2 - 10.21883/FTP.2017.01.44005.8318
DO - 10.21883/FTP.2017.01.44005.8318
M3 - статья
VL - 51
SP - 111
EP - 115
JO - ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ
JF - ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ
SN - 0015-3222
IS - 1
ER -
ID: 7736157