Разработана методика контролируемого отжига аморфных лент Ti2NiCu импульсами электрическо го тока и получены образцы с разными долями кристаллической фазы. Методом просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения изучена структура образцов. Определены условия отжига, при которых структура становится аморфно-нанокристаллической с размером зерен менее 10 нм. Найдены режимы получения образцов с двусторонней памятью формы. Разработан и испытан прототип микроманипулятора.