Standard

Методика разработки тест-пограмм контроля и диагностики цифровых устройств с использованием САПР SimTest. / Михайлов, А.Н.; Овсянников, Д.А.; Мельник, В.И.; Гришкин, В.М.

In: ЭЛЕКТРОНИКА: НАУКА, ТЕХНОЛОГИЯ, БИЗНЕС, No. 128, 2013, p. 118-124.

Research output: Contribution to journalArticle

Harvard

APA

Vancouver

Author

BibTeX

@article{d5cfea7a38144ec7af6f14941a5d2c6c,
title = "Методика разработки тест-пограмм контроля и диагностики цифровых устройств с использованием САПР SimTest",
author = "А.Н. Михайлов and Д.А. Овсянников and В.И. Мельник and В.М. Гришкин",
year = "2013",
language = "не определен",
pages = "118--124",
journal = "ЭЛЕКТРОНИКА: НАУКА, ТЕХНОЛОГИЯ, БИЗНЕС",
issn = "1992-4178",
publisher = "Техносфера",
number = "128",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Методика разработки тест-пограмм контроля и диагностики цифровых устройств с использованием САПР SimTest

AU - Михайлов, А.Н.

AU - Овсянников, Д.А.

AU - Мельник, В.И.

AU - Гришкин, В.М.

PY - 2013

Y1 - 2013

M3 - статья

SP - 118

EP - 124

JO - ЭЛЕКТРОНИКА: НАУКА, ТЕХНОЛОГИЯ, БИЗНЕС

JF - ЭЛЕКТРОНИКА: НАУКА, ТЕХНОЛОГИЯ, БИЗНЕС

SN - 1992-4178

IS - 128

ER -

ID: 5653913