Research output: Contribution to journal › Article
Методика разработки тест-пограмм контроля и диагностики цифровых устройств с использованием САПР SimTest. / Михайлов, А.Н.; Овсянников, Д.А.; Мельник, В.И.; Гришкин, В.М.
In: ЭЛЕКТРОНИКА: НАУКА, ТЕХНОЛОГИЯ, БИЗНЕС, No. 128, 2013, p. 118-124.Research output: Contribution to journal › Article
}
TY - JOUR
T1 - Методика разработки тест-пограмм контроля и диагностики цифровых устройств с использованием САПР SimTest
AU - Михайлов, А.Н.
AU - Овсянников, Д.А.
AU - Мельник, В.И.
AU - Гришкин, В.М.
PY - 2013
Y1 - 2013
M3 - статья
SP - 118
EP - 124
JO - ЭЛЕКТРОНИКА: НАУКА, ТЕХНОЛОГИЯ, БИЗНЕС
JF - ЭЛЕКТРОНИКА: НАУКА, ТЕХНОЛОГИЯ, БИЗНЕС
SN - 1992-4178
IS - 128
ER -
ID: 5653913