Standard

Harvard

APA

Vancouver

Author

BibTeX

@article{eb4417dbe982413ba10ed1b4b95a31ad,
title = "Развитие методов малоугловой дифракции, малоуглового рассеяния и рефлектометрии поляризованных нейтронов для диагностики магнитных наноматериалов",
abstract = "Новые методы поверхностного и объемного рассеяния нейтронов и синхротронного излучения применены для структурной диагностики и изучения магнитных свойств дву- и трехмерных наноматериалов. Рефлектометрия поляризованных нейтронов позволяет исследовать магнитные профили неоднородных нанокомпозитных гетероструктур, а малоугловое рассеяние синхротронного излучения в скользящей геометрии – определить их структурное упорядочение в плоскости слоев. Методика малоугловой дифракции поляризованных нейтронов и синхротронного излучения использована для исследования инвертированных ферромагнитных опалоподобных кристаллов.",
author = "Григорьев, {С. В.} and Мистонов, {А. А.} and Уклеев, {В. А.}",
year = "2015",
language = "русский",
pages = "35--40",
journal = "ВЕСТНИК РОССИЙСКОГО ФОНДА ФУНДАМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ",
issn = "1605-8070",
publisher = "Российский фонд фундаментальных исследований",
number = "2(86)",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Развитие методов малоугловой дифракции, малоуглового рассеяния и рефлектометрии поляризованных нейтронов для диагностики магнитных наноматериалов

AU - Григорьев, С. В.

AU - Мистонов, А. А.

AU - Уклеев, В. А.

PY - 2015

Y1 - 2015

N2 - Новые методы поверхностного и объемного рассеяния нейтронов и синхротронного излучения применены для структурной диагностики и изучения магнитных свойств дву- и трехмерных наноматериалов. Рефлектометрия поляризованных нейтронов позволяет исследовать магнитные профили неоднородных нанокомпозитных гетероструктур, а малоугловое рассеяние синхротронного излучения в скользящей геометрии – определить их структурное упорядочение в плоскости слоев. Методика малоугловой дифракции поляризованных нейтронов и синхротронного излучения использована для исследования инвертированных ферромагнитных опалоподобных кристаллов.

AB - Новые методы поверхностного и объемного рассеяния нейтронов и синхротронного излучения применены для структурной диагностики и изучения магнитных свойств дву- и трехмерных наноматериалов. Рефлектометрия поляризованных нейтронов позволяет исследовать магнитные профили неоднородных нанокомпозитных гетероструктур, а малоугловое рассеяние синхротронного излучения в скользящей геометрии – определить их структурное упорядочение в плоскости слоев. Методика малоугловой дифракции поляризованных нейтронов и синхротронного излучения использована для исследования инвертированных ферромагнитных опалоподобных кристаллов.

UR - https://oiks.pnpi.spb.ru/articles/387

M3 - статья

SP - 35

EP - 40

JO - ВЕСТНИК РОССИЙСКОГО ФОНДА ФУНДАМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ

JF - ВЕСТНИК РОССИЙСКОГО ФОНДА ФУНДАМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ

SN - 1605-8070

IS - 2(86)

ER -

ID: 5832880