Standard

Структурные и фотоэлектрические свойства тонких пленок оксида цинка на подложке танталата лития. / Григорьев, Л.В.; Семенов, А.А.; Михайлов, А.В.

In: ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ, Vol. 55, No. 12, 01.12.2021, p. 1180-1185.

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Harvard

Григорьев, ЛВ, Семенов, АА & Михайлов, АВ 2021, 'Структурные и фотоэлектрические свойства тонких пленок оксида цинка на подложке танталата лития', ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ, vol. 55, no. 12, pp. 1180-1185.

APA

Григорьев, Л. В., Семенов, А. А., & Михайлов, А. В. (2021). Структурные и фотоэлектрические свойства тонких пленок оксида цинка на подложке танталата лития. ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ, 55(12), 1180-1185.

Vancouver

Григорьев ЛВ, Семенов АА, Михайлов АВ. Структурные и фотоэлектрические свойства тонких пленок оксида цинка на подложке танталата лития. ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ. 2021 Dec 1;55(12):1180-1185.

Author

Григорьев, Л.В. ; Семенов, А.А. ; Михайлов, А.В. / Структурные и фотоэлектрические свойства тонких пленок оксида цинка на подложке танталата лития. In: ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ. 2021 ; Vol. 55, No. 12. pp. 1180-1185.

BibTeX

@article{94f64891cef84ab89d13d8356f603212,
title = "Структурные и фотоэлектрические свойства тонких пленок оксида цинка на подложке танталата лития",
abstract = "Представлены результаты исследования структурных и фотоэлектрических свойств тонкопленочной структуры ZnО-LiTaO3. Приведены результаты рентгеноструктурного анализа и данных атомно-силовой микроскопии для пленок оксида цинка, синтезированных на подложке из монокристаллического танталата лития и на подложке из полированного кварца КУ-1. Приведена спектральная зависимость фотоэлектрического тока тонкопленочной структуры ZnО-LiTaO3 и структуры ZnO-кварц в ультрафиолетовом и видимом диапазонах спектра. Представлены результаты восстановления методом регуляризации Тихонова-Лаврентьева энергетического спектра оптически активных дефектов, присутствующих в структуре ZnО-LiTaO3. Ключевые слова: тонкие пленки, оксид цинка, лазерная абляция, сегнетоэлектрические материалы, фотопроводимость, рентгеноструктурный анализ, атомно-силовая микроскопия, регуляризация Тихонова-Лаврентьева.",
author = "Л.В. Григорьев and А.А. Семенов and А.В. Михайлов",
year = "2021",
month = dec,
day = "1",
language = "русский",
volume = "55",
pages = "1180--1185",
journal = "ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ",
issn = "0015-3222",
publisher = "Издательство {"}Наука{"}",
number = "12",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Структурные и фотоэлектрические свойства тонких пленок оксида цинка на подложке танталата лития

AU - Григорьев, Л.В.

AU - Семенов, А.А.

AU - Михайлов, А.В.

PY - 2021/12/1

Y1 - 2021/12/1

N2 - Представлены результаты исследования структурных и фотоэлектрических свойств тонкопленочной структуры ZnО-LiTaO3. Приведены результаты рентгеноструктурного анализа и данных атомно-силовой микроскопии для пленок оксида цинка, синтезированных на подложке из монокристаллического танталата лития и на подложке из полированного кварца КУ-1. Приведена спектральная зависимость фотоэлектрического тока тонкопленочной структуры ZnО-LiTaO3 и структуры ZnO-кварц в ультрафиолетовом и видимом диапазонах спектра. Представлены результаты восстановления методом регуляризации Тихонова-Лаврентьева энергетического спектра оптически активных дефектов, присутствующих в структуре ZnО-LiTaO3. Ключевые слова: тонкие пленки, оксид цинка, лазерная абляция, сегнетоэлектрические материалы, фотопроводимость, рентгеноструктурный анализ, атомно-силовая микроскопия, регуляризация Тихонова-Лаврентьева.

AB - Представлены результаты исследования структурных и фотоэлектрических свойств тонкопленочной структуры ZnО-LiTaO3. Приведены результаты рентгеноструктурного анализа и данных атомно-силовой микроскопии для пленок оксида цинка, синтезированных на подложке из монокристаллического танталата лития и на подложке из полированного кварца КУ-1. Приведена спектральная зависимость фотоэлектрического тока тонкопленочной структуры ZnО-LiTaO3 и структуры ZnO-кварц в ультрафиолетовом и видимом диапазонах спектра. Представлены результаты восстановления методом регуляризации Тихонова-Лаврентьева энергетического спектра оптически активных дефектов, присутствующих в структуре ZnО-LiTaO3. Ключевые слова: тонкие пленки, оксид цинка, лазерная абляция, сегнетоэлектрические материалы, фотопроводимость, рентгеноструктурный анализ, атомно-силовая микроскопия, регуляризация Тихонова-Лаврентьева.

UR - http://journals.ioffe.ru/articles/51703

M3 - статья

VL - 55

SP - 1180

EP - 1185

JO - ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ

JF - ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ

SN - 0015-3222

IS - 12

ER -

ID: 86242094