Standard

Метод обнаружения загрязнений подстилающей поверхности по характеристикам обратно рассеянного ионизирующего излучения. / Свитнев, Игорь Владимирович.

Сборник трудов к конференции. Военно-космическая академия имени А.Ф. Можайского, 2020.

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Research › peer-review

Harvard

Свитнев, ИВ 2020, Метод обнаружения загрязнений подстилающей поверхности по характеристикам обратно рассеянного ионизирующего излучения. in Сборник трудов к конференции. Военно-космическая академия имени А.Ф. Можайского.

APA

Свитнев, И. В. (2020). Метод обнаружения загрязнений подстилающей поверхности по характеристикам обратно рассеянного ионизирующего излучения. In Сборник трудов к конференции Военно-космическая академия имени А.Ф. Можайского.

Vancouver

Свитнев ИВ. Метод обнаружения загрязнений подстилающей поверхности по характеристикам обратно рассеянного ионизирующего излучения. In Сборник трудов к конференции. Военно-космическая академия имени А.Ф. Можайского. 2020

Author

Свитнев, Игорь Владимирович. / Метод обнаружения загрязнений подстилающей поверхности по характеристикам обратно рассеянного ионизирующего излучения. Сборник трудов к конференции. Военно-космическая академия имени А.Ф. Можайского, 2020.

BibTeX

@inproceedings{bb3f9823a0554dd6ac7e3507c51121e5,
title = "Метод обнаружения загрязнений подстилающей поверхности по характеристикам обратно рассеянного ионизирующего излучения",
abstract = "В статье представлен метод обнаружения загрязнений подстилающей поверхности по характеристикам обратно рассеянного ионизирующего излучения, описаны геометрические системы при его визуализации и приведены расчеты для некоторых типовых загрязнителей.",
author = "Свитнев, {Игорь Владимирович}",
year = "2020",
month = sep,
day = "11",
language = "русский",
booktitle = "Сборник трудов к конференции",
publisher = "Военно-космическая академия имени А.Ф. Можайского",
address = "Российская Федерация",

}

RIS

TY - GEN

T1 - Метод обнаружения загрязнений подстилающей поверхности по характеристикам обратно рассеянного ионизирующего излучения

AU - Свитнев, Игорь Владимирович

PY - 2020/9/11

Y1 - 2020/9/11

N2 - В статье представлен метод обнаружения загрязнений подстилающей поверхности по характеристикам обратно рассеянного ионизирующего излучения, описаны геометрические системы при его визуализации и приведены расчеты для некоторых типовых загрязнителей.

AB - В статье представлен метод обнаружения загрязнений подстилающей поверхности по характеристикам обратно рассеянного ионизирующего излучения, описаны геометрические системы при его визуализации и приведены расчеты для некоторых типовых загрязнителей.

M3 - статья в сборнике материалов конференции

BT - Сборник трудов к конференции

PB - Военно-космическая академия имени А.Ф. Можайского

ER -

ID: 62296771