Standard

Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей. / Гришкин, В.М.; Лопаткин, Г.С.; Михайлов, А.Н.; Овсянников, Д.А.

In: ВОПРОСЫ РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ. СЕРИЯ ОБЩЕТЕХНИЧЕСКАЯ, No. 1, 2013, p. 80 - 89.

Research output: Contribution to journal › Article

Harvard

Гришкин, ВМ, Лопаткин, ГС, Михайлов, АН & Овсянников, ДА 2013, 'Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей', ВОПРОСЫ РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ. СЕРИЯ ОБЩЕТЕХНИЧЕСКАЯ, no. 1, pp. 80 - 89.

APA

Гришкин, В. М., Лопаткин, Г. С., Михайлов, А. Н., & Овсянников, Д. А. (2013). Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей. ВОПРОСЫ РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ. СЕРИЯ ОБЩЕТЕХНИЧЕСКАЯ, (1), 80 - 89.

Vancouver

Гришкин ВМ, Лопаткин ГС, Михайлов АН, Овсянников ДА. Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей. ВОПРОСЫ РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ. СЕРИЯ ОБЩЕТЕХНИЧЕСКАЯ. 2013;(1):80 - 89.

Author

Гришкин, В.М. ; Лопаткин, Г.С. ; Михайлов, А.Н. ; Овсянников, Д.А. / Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей. In: ВОПРОСЫ РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ. СЕРИЯ ОБЩЕТЕХНИЧЕСКАЯ. 2013 ; No. 1. pp. 80 - 89.

BibTeX

@article{823e5d06edf84201bcc47dc5f0ceceb5,
title = "Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей",
abstract = "Описывается метод построения моделей входных воздействий для тестирования цифровых устройств. Метод использует выявленные экспертом в схеме устройства типовые функциональные узлы - логические интерфейсы. Предлагается строить входные воздействия в виде набора типовых операций, присущих каждому логическому интерфейсу. Рассматриваются типы логических интерфейсов, структура и возможный вариант их программной реализации.",
keywords = "цифровые электронные модули, тестирование, моделирование, входные воздействия, логический интерфейс.",
author = "В.М. Гришкин and Г.С. Лопаткин and А.Н. Михайлов and Д.А. Овсянников",
year = "2013",
language = "русский",
pages = "80 -- 89",
journal = "Вопросы радиоэлектроники. Серия: Общие вопросы радиоэлектроники ",
number = "1",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей

AU - Гришкин, В.М.

AU - Лопаткин, Г.С.

AU - Михайлов, А.Н.

AU - Овсянников, Д.А.

PY - 2013

Y1 - 2013

N2 - Описывается метод построения моделей входных воздействий для тестирования цифровых устройств. Метод использует выявленные экспертом в схеме устройства типовые функциональные узлы - логические интерфейсы. Предлагается строить входные воздействия в виде набора типовых операций, присущих каждому логическому интерфейсу. Рассматриваются типы логических интерфейсов, структура и возможный вариант их программной реализации.

AB - Описывается метод построения моделей входных воздействий для тестирования цифровых устройств. Метод использует выявленные экспертом в схеме устройства типовые функциональные узлы - логические интерфейсы. Предлагается строить входные воздействия в виде набора типовых операций, присущих каждому логическому интерфейсу. Рассматриваются типы логических интерфейсов, структура и возможный вариант их программной реализации.

KW - цифровые электронные модули

KW - тестирование

KW - моделирование

KW - входные воздействия

KW - логический интерфейс.

M3 - статья

SP - 80

EP - 89

JO - Вопросы радиоэлектроники. Серия: Общие вопросы радиоэлектроники

JF - Вопросы радиоэлектроники. Серия: Общие вопросы радиоэлектроники

IS - 1

ER -

ID: 5637782