Standard

Электрическая площадь импульса в слое среды с электрической проводимостью. / Розанов, Николай Николаевич; Пахомов, Антон Владимирович; Архипов, Михаил Викторович; Архипов, Ростислав Михайлович.

In: ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ, Vol. 132, No. 2, 2024, p. 142-145.

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Harvard

Розанов, НН, Пахомов, АВ, Архипов, МВ & Архипов, РМ 2024, 'Электрическая площадь импульса в слое среды с электрической проводимостью', ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ, vol. 132, no. 2, pp. 142-145. <https://journals.ioffe.ru/articles/57772>

APA

Розанов, Н. Н., Пахомов, А. В., Архипов, М. В., & Архипов, Р. М. (2024). Электрическая площадь импульса в слое среды с электрической проводимостью. ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ, 132(2), 142-145. https://journals.ioffe.ru/articles/57772

Vancouver

Розанов НН, Пахомов АВ, Архипов МВ, Архипов РМ. Электрическая площадь импульса в слое среды с электрической проводимостью. ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ. 2024;132(2):142-145.

Author

Розанов, Николай Николаевич ; Пахомов, Антон Владимирович ; Архипов, Михаил Викторович ; Архипов, Ростислав Михайлович. / Электрическая площадь импульса в слое среды с электрической проводимостью. In: ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ. 2024 ; Vol. 132, No. 2. pp. 142-145.

BibTeX

@article{d9e3f2f4ec17406082534965432f37cd,
title = "Электрическая площадь импульса в слое среды с электрической проводимостью",
author = "Розанов, {Николай Николаевич} and Пахомов, {Антон Владимирович} and Архипов, {Михаил Викторович} and Архипов, {Ростислав Михайлович}",
year = "2024",
language = "русский",
volume = "132",
pages = "142--145",
journal = "ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ",
issn = "0030-4034",
publisher = "Международная книга",
number = "2",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Электрическая площадь импульса в слое среды с электрической проводимостью

AU - Розанов, Николай Николаевич

AU - Пахомов, Антон Владимирович

AU - Архипов, Михаил Викторович

AU - Архипов, Ростислав Михайлович

PY - 2024

Y1 - 2024

M3 - статья

VL - 132

SP - 142

EP - 145

JO - ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ

JF - ОПТИКА И СПЕКТРОСКОПИЯ

SN - 0030-4034

IS - 2

ER -

ID: 114845228