TY - JOUR

T1 - ПРОВОДИМОСТЬ МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ПЛЁНКИ С ТОНКИМИ ШЕРОХОВАТЫМИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИМИ ПОКРЫТИЯМИ

AU - Ковалевский, Д.В.

AU - Кучма, А.Е.

PY - 2009

Y1 - 2009

N2 - Рассчитана продольная статическая проводимость плёнки с тонкими шероховатыми диэлектрическими покрытиями. В граничном условии для функции распределения электронов использован зависящий от угла падения коэффициент зеркальности, рассчитанный на основе ранее предложенной авторами модели отражения блоховской волны от шероховатой диэлектрической прослойки. Показано, что для не слишком тонких плёнок можно пользоваться результатами классической теории Фукса-Зондгеймера. Библиогр. 23 назв. Ил. 1. The conductivity of a metallic film covered by thin rough dielectric surface layers is calculated. In the boundary condition for the electron distribution function the coefficient of specular reflection dependent on the angle of incidence is used which is calculated in the frame of the model previously developed by the authors for Bloch wave reflectance from the rough dielectric interface. It is shown that the results of the classical Fucks-Sondheimer theory are applicable unless the film is very thin.

AB - Рассчитана продольная статическая проводимость плёнки с тонкими шероховатыми диэлектрическими покрытиями. В граничном условии для функции распределения электронов использован зависящий от угла падения коэффициент зеркальности, рассчитанный на основе ранее предложенной авторами модели отражения блоховской волны от шероховатой диэлектрической прослойки. Показано, что для не слишком тонких плёнок можно пользоваться результатами классической теории Фукса-Зондгеймера. Библиогр. 23 назв. Ил. 1. The conductivity of a metallic film covered by thin rough dielectric surface layers is calculated. In the boundary condition for the electron distribution function the coefficient of specular reflection dependent on the angle of incidence is used which is calculated in the frame of the model previously developed by the authors for Bloch wave reflectance from the rough dielectric interface. It is shown that the results of the classical Fucks-Sondheimer theory are applicable unless the film is very thin.

KW - тонкие плёнки

KW - классический размерный эффект

KW - теория Фукса-Зондгеймера

KW - шероховатость

M3 - статья

SP - 372

EP - 376

JO - ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ФИЗИКА И ХИМИЯ

JF - ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ФИЗИКА И ХИМИЯ

SN - 1024-8579

IS - 4

ER -