Предложены методика и алгоритмы регистрации и обработки полевых эмиссионных изображений. Описан оригинальный метод идентификации отдельных кристаллографических граней и направлений в структуре поверхности на основе полевых эмиссионных изображений и сведений о кристаллической решетке эмиттера. Результаты работы могут быть использованы для детального исследования полевой эмиссии электронов при различных воздействиях на поверхность металла.