Standard

Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением геометрически неоднородных поверхностей. / Усачёв, Д.Ю.; Шикин, А.М.; Варыхалов, А.Ю.; Адамчук, В.К.; Радер, О.

In: ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА, Vol. 49, No. 5, 2007, p. 899-907.

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

Harvard

APA

Vancouver

Author

Усачёв, Д.Ю. ; Шикин, А.М. ; Варыхалов, А.Ю. ; Адамчук, В.К. ; Радер, О. / Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением геометрически неоднородных поверхностей. In: ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА. 2007 ; Vol. 49, No. 5. pp. 899-907.

BibTeX

@article{2c5d8a1a07a04a3ebccc5f96cdc775b4,
title = "Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением геометрически неоднородных поверхностей",
abstract = "Рассмотрен процесс формирования фотоэлектронных спектров с угловым разрешением при исследовании кристаллических поверхностей со сложным геометрическим рельефом. Предложена простая модель тонкой гофрированной монокристаллической пленки, иллюстрирующая основные закономерности этого процесса. Показано, что в фотоэлектронных спектрах таких поверхностей проявляются особенности, не отражающие истинную электронную структуру системы, а являющиеся результатом ее суперпозиции с геометрической структурой. Для демонстрации результатов использования модели была сформирована физическая система на основе ступенчатых поверхностей Ni (771) и Ni(755) с периодическими ступеньками. Показано, что при формировании монослойного графитового покрытия эти поверхности фасетируются, формируя геометрически неоднородный рельеф поверхности. Фотоэлектронные спектры, полученные от такой поверхности, позволяют дать количественную характеристику как электронной структуры поверхности, так и ее геометрических свойств. Для независимого определени",
author = "Д.Ю. Усачёв and А.М. Шикин and А.Ю. Варыхалов and В.К. Адамчук and О. Радер",
year = "2007",
language = "русский",
volume = "49",
pages = "899--907",
journal = "ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА",
issn = "0367-3294",
publisher = "Издательство {"}Наука{"}",
number = "5",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением геометрически неоднородных поверхностей

AU - Усачёв, Д.Ю.

AU - Шикин, А.М.

AU - Варыхалов, А.Ю.

AU - Адамчук, В.К.

AU - Радер, О.

PY - 2007

Y1 - 2007

N2 - Рассмотрен процесс формирования фотоэлектронных спектров с угловым разрешением при исследовании кристаллических поверхностей со сложным геометрическим рельефом. Предложена простая модель тонкой гофрированной монокристаллической пленки, иллюстрирующая основные закономерности этого процесса. Показано, что в фотоэлектронных спектрах таких поверхностей проявляются особенности, не отражающие истинную электронную структуру системы, а являющиеся результатом ее суперпозиции с геометрической структурой. Для демонстрации результатов использования модели была сформирована физическая система на основе ступенчатых поверхностей Ni (771) и Ni(755) с периодическими ступеньками. Показано, что при формировании монослойного графитового покрытия эти поверхности фасетируются, формируя геометрически неоднородный рельеф поверхности. Фотоэлектронные спектры, полученные от такой поверхности, позволяют дать количественную характеристику как электронной структуры поверхности, так и ее геометрических свойств. Для независимого определени

AB - Рассмотрен процесс формирования фотоэлектронных спектров с угловым разрешением при исследовании кристаллических поверхностей со сложным геометрическим рельефом. Предложена простая модель тонкой гофрированной монокристаллической пленки, иллюстрирующая основные закономерности этого процесса. Показано, что в фотоэлектронных спектрах таких поверхностей проявляются особенности, не отражающие истинную электронную структуру системы, а являющиеся результатом ее суперпозиции с геометрической структурой. Для демонстрации результатов использования модели была сформирована физическая система на основе ступенчатых поверхностей Ni (771) и Ni(755) с периодическими ступеньками. Показано, что при формировании монослойного графитового покрытия эти поверхности фасетируются, формируя геометрически неоднородный рельеф поверхности. Фотоэлектронные спектры, полученные от такой поверхности, позволяют дать количественную характеристику как электронной структуры поверхности, так и ее геометрических свойств. Для независимого определени

M3 - статья

VL - 49

SP - 899

EP - 907

JO - ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА

JF - ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА

SN - 0367-3294

IS - 5

ER -

ID: 5010117