В работе предложен и реализован алгоритм для идентификации полевых эмиссионных изображений с целью определения кристаллографической ориентации полевого эмиттера и получения полной информации о структурных особенностях его поверхности. Для выделения информационных областей изображения и их контуров отдано предпочтение применению пороговой операции с помощью распределения яркости. При этом предложен оригинальный алгоритм выделения маски “пятна” произвольной формы. Этот алгоритм обработки информационных областей изображения применим и к “контурным препаратам”, однако контуры информационных фрагментов не должны содержать более одного разрыва. Использование данных внутренних областей эмиссионных “пятен” путем определения геометрических моментов позволяет повысить достоверность результатов обработки за счет увеличения выборки в отличие от использования контурных препаратов.