The applicability of Raman spectroscopy for estimation of interfaces thickness in the AlN/GaN superlattices

D.V. Pankin, M.B. Smirnov

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьярецензирование

Язык оригиналане определен
Страницы (с-по)83-90
ЖурналST. PETERSBURG POLYTECHNIC UNIVERSITY JOURNAL: PHYSICS AND MATHEMATICS
Том2
Номер выпуска2
DOI
СостояниеОпубликовано - 2016

Цитировать