Single-crystal X-ray diffraction: This excerpt from ASM handbook, volume 10: Materials characterization describes the technique used to determine crystal structure and the arrangement of atoms in a unit cell

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхкомментарий, выступление

Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)32-34
Число страниц3
ЖурналAdvanced Materials and Processes
Том178
Номер выпуска1
СостояниеОпубликовано - 10 янв 2020

Предметные области Scopus

  • Материаловедение (все)
  • Сопротивление материалов
  • Общее машиностроение

Цитировать