Simulation of specimen structure in atom probe tomography and field electron microscopy

Результат исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучная

8 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналаанглийский
Название основной публикацииSimulation of specimen structure in atom probe tomography and field electron microscopy
ИздательInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN (печатное издание)9781479968244
DOI
СостояниеОпубликовано - 2015

Цитировать

Nikiforov, K. A., & Egorov, N. V. (2015). Simulation of specimen structure in atom probe tomography and field electron microscopy. В Simulation of specimen structure in atom probe tomography and field electron microscopy Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.. https://doi.org/10.1109/POLYAKHOV.2015.7106762