Reflection-absorption FTIR study of SF6 thin films in combinational modes region

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Аннотация

Reflection-absorption IR (RAIR) spectra of sulfur hexafluoride (SF6) crystalline thin films in 10–100 K temperature range and absorption FTIR spectra of thin layer (90 μm) of liquid SF6 near the melting point (Tm = 222 K) are recorded. Special attention is paid to combinational bands region. The three types of band behavior upon phase transitions are identified and illustrated by 3ν6, ν1+ ν3, ν2+ ν3, ν14 and ν54 bands. The contours of the latter bands uncharacteristically change upon phase transitions. The different behavior of those bands is explained by the various contributions of different band forming mechanisms, evaluated by the mathematical apparatus of spectral moments.

Язык оригиналаанглийский
Номер статьи129051
ЖурналJournal of Molecular Structure
Том1224
DOI
СостояниеОпубликовано - 15 янв 2021

Предметные области Scopus

  • Аналитическая химия
  • Спектроскопия
  • Органическая химия
  • Неорганическая химия

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Reflection-absorption FTIR study of SF<sub>6</sub> thin films in combinational modes region». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать