Probing the Composition and Extension of Interface by HAXPES. Inhibition of Oxygen Scavenging by TiN at the TiN/Dielectric Interface by Protective Layer

Результат исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийиная часть книжной публикациинаучнаярецензирование

19 Загрузки (Pure)
Язык оригиналаанглийский
Название основной публикации8th International Conference on Hard X-Ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES 2019)
Подзаголовок основной публикацииBook of Abstracts
СтраницыOC-06
Число страниц1
СостояниеОпубликовано - 2019
Событие8th International Conference on Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy - Paris, Франция
Продолжительность: 2 июн 20197 июн 2019

конференция

конференция8th International Conference on Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
Сокращенный заголовокHAXPES 2019
СтранаФранция
ГородParis
Период2/06/197/06/19

Цитировать