Numerical simulation of surface morphology of two-tier microsized matrix structure of SiC FEA

Результат исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференции

Язык оригиналаанглийский
Название основной публикации2020 33rd International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC)
ИздательInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN (электронное издание)978-1-7281-9454-7
DOI
СостояниеОпубликовано - 2020

Цитировать