Modeling of profiles of X-ray diffraction reflections for gradient single crystals

I. A. Kasatkin, T. I. Ivanova

    Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

    1 Цитирования (Scopus)

    Аннотация

    X-ray diffraction by a one-dimensional gradient crystal with the regular variations of the lattice metrics caused by the variation of the chemical composition along the growth direction is considered. The diffraction curves calculated within the suggested model reliably describe the observed asymmetric profiles of reflections from the growth face of a gradient K1-xRbxC8H5O4 crystal (x = 0-0.25). It is shown that the gradients of the parameter b obtained in modeling and calculated based on the data of direct measurements are in good agreement.

    Язык оригиналаанглийский
    Страницы (с-по)1015-1019
    Число страниц5
    ЖурналCrystallography Reports
    Том43
    Номер выпуска6
    СостояниеОпубликовано - 1 ноя 1998

    Предметные области Scopus

    • Химия (все)
    • Материаловедение (все)
    • Физика конденсатов

    Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Modeling of profiles of X-ray diffraction reflections for gradient single crystals». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать