I-V curve investigation with regression methods

Результат исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаярецензирование

1 Цитирования (Scopus)

Аннотация

Currently, field electron emission is an indispensable tool for studying advanced materials. Analysis of the current-voltage (I-V ) dependences allows us to derive information about some characteristics of the field-emission cathode (i.e., work function or field enhancement factor values). It is known that in the Fowler-Nordheim coordinates I-V curve is linear. A linear approximation can be constructed with the method of ordinary least squares (OLS). OLS is one of the basic methods of regression analysis used to estimate unknown parameters of regression models. However, reliable confidence intervals for the regression coefficients can only be easily obtained if the model residuals are normally distributed. This is impossible to assume about the log-transformed I-V curve. The scope of this paper is modeling of I-V dependence. The random errors of I measurements are normally distributed. We have constructed estimations of the coefficients in Fowler-Nordheim law (i.e. A and B) using methods of linear and nonlinear regression and shown that those approaches give different results. Errors of determining of the coefficients A and B are presented.

Язык оригиналаанглийский
Название основной публикации2016 14th International Baltic Conference on Atomic Layer Deposition, BALD 2016 - Proceedings
ИздательInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Страницы41-43
Число страниц3
ISBN (электронное издание)9781509034161
DOI
СостояниеОпубликовано - 24 мар 2017
Событие14th International Baltic Conference on Atomic Layer Deposition, BALD 2016 - St. Petersburg, Российская Федерация
Продолжительность: 1 окт 20163 окт 2016

конференция

конференция14th International Baltic Conference on Atomic Layer Deposition, BALD 2016
СтранаРоссийская Федерация
ГородSt. Petersburg
Период1/10/163/10/16

Предметные области Scopus

  • Электроника, оптика и магнитные материалы
  • Поверхности, слои и пленки
  • Атомная и молекулярная физика и оптика
  • Поверхности и интерфейсы
  • Химия и технология процессов
  • Электрохимия

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «I-V curve investigation with regression methods». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать