FWI spectral sensitivity analysis in the presence of a free surface // SEG International Exposition and 85th Annual Meeting-2015. https://doi.org/10.1190/segam2015-5898847

V.V. Kazei, B.M. Kashtan, V.N. Troyan, W.A. Mulder

Результат исследований: Материалы конференцийтезисы

3 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналане определен
СостояниеОпубликовано - 2015
Опубликовано для внешнего пользованияДа
СобытиеSEG International Exposition and 85th Annual Meeting - New Orleans, Соединенные Штаты Америки
Продолжительность: 17 окт 201522 окт 2015
http://www.getech.com/85th-seg-annual-meeting/

Прочее

ПрочееSEG International Exposition and 85th Annual Meeting
СтранаСоединенные Штаты Америки
ГородNew Orleans
Период17/10/1522/10/15
Адрес в сети Интернет

Цитировать

Kazei, V. V., Kashtan, B. M., Troyan, V. N., & Mulder, W. A. (2015). FWI spectral sensitivity analysis in the presence of a free surface // SEG International Exposition and 85th Annual Meeting-2015. https://doi.org/10.1190/segam2015-5898847. Выдержка из SEG International Exposition and 85th Annual Meeting, New Orleans, Соединенные Штаты Америки.