Effect of the interface roughness in multilayer systems on x-ray scattering spectra

V.P. Romanov, V.M. Uzdin, S.V. Ulyanov

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Язык оригиналане определен
Страницы (с-по)353-359
ЖурналPhysics of the Solid State
Том50
Номер выпуска2
DOI
СостояниеОпубликовано - 2008

Цитировать