Does Elastic Scattering in Metal Decrease the Ballistic Electron Emission Microscopy Resolution?

V. P. Denissov, V. A. Klemeshev

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьярецензирование

Аннотация

The influence of elastic scattering on the resolution of the ballistic electron emission microscope was analyzed with the Monte Carlo modeling method. It was found that the resolution is not reduced even at the lower limit of the mean free path range for this kind of interaction, though the signal-to-noise ratio was decreased. The limiting resolution of about 1 nm is in good agreement with the experiment. Accounting for the escape conditions and the transverse momentum conservation law can make this figure even higher.

Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)89-94
Число страниц6
ЖурналPhysics of Low-Dimensional Structures
Том1999
Номер выпуска5-6
СостояниеОпубликовано - 1 дек 1999

Предметные области Scopus

  • Электроника, оптика и магнитные материалы
  • Физика и астрономия (разное)
  • Физика конденсатов

Fingerprint

Подробные сведения о темах исследования «Does Elastic Scattering in Metal Decrease the Ballistic Electron Emission Microscopy Resolution?». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать