| Язык оригинала | английский |
|---|---|
| Название основной публикации | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
| Состояние | Опубликовано - 2014 |
| Опубликовано для внешнего пользования | Да |
Цитировать
Sevrygin, A. A., Korotkov, V. I., Pulkin, S. A., Tursunov, I. M., Venediktov, D. V., Venediktov, V. Y., & Volkov, O. V. (2014). Digital holographic Michelson interferometer for nanometrology. В Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
@inproceedings{f9778749ccdf4976b46ad140d3fb56e1,
title = "Digital holographic Michelson interferometer for nanometrology",
author = "A.A. Sevrygin and V.I. Korotkov and S.A. Pulkin and I.M. Tursunov and D.V. Venediktov and V.Yu. Venediktov and O.V. Volkov",
year = "2014",
language = "English",
isbn = "978-162841344-1",
booktitle = "Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering",
}
Sevrygin, AA, Korotkov, VI, Pulkin, SA, Tursunov, IM, Venediktov, DV, Venediktov, VY & Volkov, OV 2014, Digital holographic Michelson interferometer for nanometrology. в Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering.
Digital holographic Michelson interferometer for nanometrology. / Sevrygin, A.A.; Korotkov, V.I.; Pulkin, S.A.; Tursunov, I.M.; Venediktov, D.V.; Venediktov, V.Yu.; Volkov, O.V.
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. 2014.Результат исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции
TY - GEN
T1 - Digital holographic Michelson interferometer for nanometrology
AU - Sevrygin, A.A.
AU - Korotkov, V.I.
AU - Pulkin, S.A.
AU - Tursunov, I.M.
AU - Venediktov, D.V.
AU - Venediktov, V.Yu.
AU - Volkov, O.V.
PY - 2014
Y1 - 2014
M3 - Conference contribution
SN - 978-162841344-1
BT - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
ER -
Sevrygin AA, Korotkov VI, Pulkin SA, Tursunov IM, Venediktov DV, Venediktov VY и соавт. Digital holographic Michelson interferometer for nanometrology. В Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. 2014