Detection of the border dead layer in thick quantum wells GaAs/AlGaAs

E. V. Ubyivovk, D. K. Loginov, I. Ya. Gerlovin, Yu. K. Dolgikh, Yu. P. Efimov, S. A. Eliseev, V. V. Petrov, O. F. Vyvenko, A. A. Sitnikova, D. A. Kirilenko

Результат исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике

Язык оригиналане определен
Название основной публикацииXXII Russian Conference of the electron microscopy
СостояниеОпубликовано - 2008

Цитировать