Comparative study of the X-ray reflectivity and in-depth profile of a-C, B4C and Ni coatings at 0.1-2 keV

I.V. Kozhevnikov, E.O. Filatova, A.A. Sokolov, A.S. Konashuk, F. Siewert, M. Störmer, J. Gaudin, B. Keitel, L. Samoylova, H. Sinn

Результат исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучная

7 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналаанглийский
Название основной публикацииComparative study of the X-ray reflectivity and in-depth profile of a-C, B4C and Ni coatings at 0.1-2 keV
Страницы348-353
DOI
СостояниеОпубликовано - 2015

Цитировать

Kozhevnikov, I. V., Filatova, E. O., Sokolov, A. A., Konashuk, A. S., Siewert, F., Störmer, M., Gaudin, J., Keitel, B., Samoylova, L., & Sinn, H. (2015). Comparative study of the X-ray reflectivity and in-depth profile of a-C, B4C and Ni coatings at 0.1-2 keV. В Comparative study of the X-ray reflectivity and in-depth profile of a-C, B4C and Ni coatings at 0.1-2 keV (стр. 348-353) https://doi.org/10.1107/S1600577515000430