Capacitance transient X-ray absorption spectroscopy of semiconducting structures.

N. Bazlov, O. Vyvenko, A. Bondarenko, M. Trushin, A. Novikov, A. Vinogradov, M. Brzhezinskaya, R. Ovsyannikov

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

1 Цитирования (Scopus)
Язык оригиналане определен
Страницы (с-по)190-199
ЖурналSuperlattices and Microstructures
Том45
Номер выпуска4-5
DOI
СостояниеОпубликовано - 2009

Цитировать