Standard

Application of PT-symmetry in metasurfaces for measuring the inclination angle. / Ефремова, Екатерина Александровна; Крылов, Игорь Ратмирович; Прохорова, Ульяна Витальевна; Шалымов, Егор Вадимович; Шоев, Владислав Иванович; Венедиктов, Владимир Юрьевич; Зинчик, Александр Адольфович.

Nanophotonics and Micro/Nano Optics IX. SPIE, 2023. 1277306 (Proceedings; Том 12773).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Harvard

Ефремова, ЕА, Крылов, ИР, Прохорова, УВ, Шалымов, ЕВ, Шоев, ВИ, Венедиктов, ВЮ & Зинчик, АА 2023, Application of PT-symmetry in metasurfaces for measuring the inclination angle. в Nanophotonics and Micro/Nano Optics IX., 1277306, Proceedings, Том. 12773, SPIE, Nanophotonics and Micro/Nano Optics IX, Китай, 14/10/23. https://doi.org/10.1117/12.2686512

APA

Ефремова, Е. А., Крылов, И. Р., Прохорова, У. В., Шалымов, Е. В., Шоев, В. И., Венедиктов, В. Ю., & Зинчик, А. А. (2023). Application of PT-symmetry in metasurfaces for measuring the inclination angle. в Nanophotonics and Micro/Nano Optics IX [1277306] (Proceedings; Том 12773). SPIE. https://doi.org/10.1117/12.2686512

Vancouver

Ефремова ЕА, Крылов ИР, Прохорова УВ, Шалымов ЕВ, Шоев ВИ, Венедиктов ВЮ и пр. Application of PT-symmetry in metasurfaces for measuring the inclination angle. в Nanophotonics and Micro/Nano Optics IX. SPIE. 2023. 1277306. (Proceedings). https://doi.org/10.1117/12.2686512

Author

Ефремова, Екатерина Александровна ; Крылов, Игорь Ратмирович ; Прохорова, Ульяна Витальевна ; Шалымов, Егор Вадимович ; Шоев, Владислав Иванович ; Венедиктов, Владимир Юрьевич ; Зинчик, Александр Адольфович. / Application of PT-symmetry in metasurfaces for measuring the inclination angle. Nanophotonics and Micro/Nano Optics IX. SPIE, 2023. (Proceedings).

BibTeX

@inproceedings{16c189f5d4654e528020124fa1e24e7c,
title = "Application of PT-symmetry in metasurfaces for measuring the inclination angle",
author = "Ефремова, {Екатерина Александровна} and Крылов, {Игорь Ратмирович} and Прохорова, {Ульяна Витальевна} and Шалымов, {Егор Вадимович} and Шоев, {Владислав Иванович} and Венедиктов, {Владимир Юрьевич} and Зинчик, {Александр Адольфович}",
year = "2023",
month = nov,
day = "28",
doi = "10.1117/12.2686512",
language = "English",
series = "Proceedings",
publisher = "SPIE",
booktitle = "Nanophotonics and Micro/Nano Optics IX",
address = "United States",
note = "Nanophotonics and Micro/Nano Optics IX ; Conference date: 14-10-2023 Through 16-10-2023",
url = "https://spie.org/PA/conferencedetails/nanophotonics-and-micro-nano-optics",

}

RIS

TY - GEN

T1 - Application of PT-symmetry in metasurfaces for measuring the inclination angle

AU - Ефремова, Екатерина Александровна

AU - Крылов, Игорь Ратмирович

AU - Прохорова, Ульяна Витальевна

AU - Шалымов, Егор Вадимович

AU - Шоев, Владислав Иванович

AU - Венедиктов, Владимир Юрьевич

AU - Зинчик, Александр Адольфович

N1 - Conference code: 12773

PY - 2023/11/28

Y1 - 2023/11/28

U2 - 10.1117/12.2686512

DO - 10.1117/12.2686512

M3 - Conference contribution

T3 - Proceedings

BT - Nanophotonics and Micro/Nano Optics IX

PB - SPIE

T2 - Nanophotonics and Micro/Nano Optics IX

Y2 - 14 October 2023 through 16 October 2023

ER -

ID: 115292568