Коэффициенты поглощения излучения CO2-лазера в газообразном SiF4 при низком давлении.

Д. А. Акулинин, И. Р. Крылов, А. Д. Чубыкин

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Выдержка

Линии P(28)–P(40) вращательной структуры колебательного перехода 0001–0200(с центром на длине волны 9,6 мкм) генерации CO2-лазера попадают в полосу поглощения колебания ν3 молекулы SiF4. Для интерпретации слабых резонансов спектра насыщения поглощения представляет интерес зависимость амплитуды резонансов от давления газа SiF4 и мощности лазерного луча. В работе проведены измерения мощности излучения CO2-лазера, прошедшего кювету с газом SiF4, в зависимости от давления газа при стремлении мощности излучения к нулю. Диапазон изменения давлений 1–20 мТорр. Частота генерации лазера изменялась в диапазоне 40–60 МГц в пределах каждой линии усиления CO2. По результатам измерений получены значения приведённого к единичному давлению газа коэффициента поглощения SiF4 в зависимости от частоты лазерного излучения.
Язык оригиналарусский
Страницы (с-по)185-190
ЖурналВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ
Номер выпуска2
СостояниеОпубликовано - 2014

Ключевые слова

  • лазерная спектроскопия
  • насыщение поглощения

Цитировать

@article{10a8228ea66a4c029dacb972553aea07,
title = "Коэффициенты поглощения излучения CO2-лазера в газообразном SiF4 при низком давлении.",
abstract = "Линии P(28)–P(40) вращательной структуры колебательного перехода 0001–0200(с центром на длине волны 9,6 мкм) генерации CO2-лазера попадают в полосу поглощения колебания ν3 молекулы SiF4. Для интерпретации слабых резонансов спектра насыщения поглощения представляет интерес зависимость амплитуды резонансов от давления газа SiF4 и мощности лазерного луча. В работе проведены измерения мощности излучения CO2-лазера, прошедшего кювету с газом SiF4, в зависимости от давления газа при стремлении мощности излучения к нулю. Диапазон изменения давлений 1–20 мТорр. Частота генерации лазера изменялась в диапазоне 40–60 МГц в пределах каждой линии усиления CO2. По результатам измерений получены значения приведённого к единичному давлению газа коэффициента поглощения SiF4 в зависимости от частоты лазерного излучения.",
keywords = "лазерная спектроскопия, насыщение поглощения",
author = "Акулинин, {Д. А.} and Крылов, {И. Р.} and Чубыкин, {А. Д.}",
year = "2014",
language = "русский",
pages = "185--190",
journal = "ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ФИЗИКА И ХИМИЯ",
issn = "1024-8579",
publisher = "Издательство Санкт-Петербургского университета",
number = "2",

}

Коэффициенты поглощения излучения CO2-лазера в газообразном SiF4 при низком давлении. / Акулинин, Д. А.; Крылов, И. Р.; Чубыкин, А. Д.

В: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ, № 2, 2014, стр. 185-190.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

TY - JOUR

T1 - Коэффициенты поглощения излучения CO2-лазера в газообразном SiF4 при низком давлении.

AU - Акулинин, Д. А.

AU - Крылов, И. Р.

AU - Чубыкин, А. Д.

PY - 2014

Y1 - 2014

N2 - Линии P(28)–P(40) вращательной структуры колебательного перехода 0001–0200(с центром на длине волны 9,6 мкм) генерации CO2-лазера попадают в полосу поглощения колебания ν3 молекулы SiF4. Для интерпретации слабых резонансов спектра насыщения поглощения представляет интерес зависимость амплитуды резонансов от давления газа SiF4 и мощности лазерного луча. В работе проведены измерения мощности излучения CO2-лазера, прошедшего кювету с газом SiF4, в зависимости от давления газа при стремлении мощности излучения к нулю. Диапазон изменения давлений 1–20 мТорр. Частота генерации лазера изменялась в диапазоне 40–60 МГц в пределах каждой линии усиления CO2. По результатам измерений получены значения приведённого к единичному давлению газа коэффициента поглощения SiF4 в зависимости от частоты лазерного излучения.

AB - Линии P(28)–P(40) вращательной структуры колебательного перехода 0001–0200(с центром на длине волны 9,6 мкм) генерации CO2-лазера попадают в полосу поглощения колебания ν3 молекулы SiF4. Для интерпретации слабых резонансов спектра насыщения поглощения представляет интерес зависимость амплитуды резонансов от давления газа SiF4 и мощности лазерного луча. В работе проведены измерения мощности излучения CO2-лазера, прошедшего кювету с газом SiF4, в зависимости от давления газа при стремлении мощности излучения к нулю. Диапазон изменения давлений 1–20 мТорр. Частота генерации лазера изменялась в диапазоне 40–60 МГц в пределах каждой линии усиления CO2. По результатам измерений получены значения приведённого к единичному давлению газа коэффициента поглощения SiF4 в зависимости от частоты лазерного излучения.

KW - лазерная спектроскопия

KW - насыщение поглощения

M3 - статья

SP - 185

EP - 190

JO - ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ФИЗИКА И ХИМИЯ

JF - ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ФИЗИКА И ХИМИЯ

SN - 1024-8579

IS - 2

ER -