41 - 50 из 247Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2021

  2. МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ НАНОСТРУКТУР ВАКУУМНОЙ НАНОЭЛЕКТРОНИКИ

    Никифоров, К. А. & Егоров, Н. В., 2021, стр. 701-702. 2 стр.

    Результаты исследований: Материалы конференций › материалы

  3. МОДЕЛИРОВАНИЕ ОСЕСИММЕТРИЧНОЙ ДИОДНОЙ СИСТЕМЫ С ТОНКИМ ПОЛЕВЫМ ОСТРИЕМ

    Виноградова, Е. М. & Егоров, Н. В., 2021, стр. 133-136. 4 стр.

    Результаты исследований: Материалы конференций › материалы

  4. СТАТИСТИЧЕСКИЕ ПОДХОДЫ В ЗАДАЧАХ ЭМИССИОННОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ

    Егоров, Н. В., Антонов, А. Ю. & Вараюнь, М. И., 2021, стр. 193-194. 2 стр.

    Результаты исследований: Материалы конференций › материалы

  5. 2020

  6. Регрессионные модели для сигнала полевой электронной эмиссии

    Егоров, Н. В., Вараюнь, М. И., Буре, В. М. & Антонов, А. Ю., дек 2020, в: ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. 12, стр. 95-104

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Regression Models for the Field Electron Emission Signal

    Egorov, N. V., Varayun’, M. I., Bure, V. M. & Antonov, A. Y., ноя 2020, в: Journal of Surface Investigation. 14, 6, стр. 1394-1402 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ И ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ОЦЕНКИ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ГОЛОГРАФИЧЕСКОГО МИКРОСКОПА

    Егоров, Н. В., Антонова, Л. И., Карпов, А. Г., Трофимов, В. В. & Федоров, А. Г., окт 2020, в: ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. 10, стр. 79-84 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Theoretical and Experimental Evaluation of the Electrical Parameters of a Holographic Microscope

    Egorov, N. V., Antonova, L. I., Karpov, A. G., Trofimov, V. V. & Fedorov, A. G., 1 сен 2020, в: Journal of Surface Investigation. 14, 5, стр. 1061-1065 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Analysis of Confidence Intervals for Regression Model Parameters, Based on the Fowler–Nordheim Law

    Egorov, N. V., Antonov, A. Y. & Varayun’, M. I., 1 июл 2020, в: Journal of Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 14, 4, стр. 730-737 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. The Energy Spectrum of Field Emission Electrons from 4H Silicon Carbide

    Никифоров, К. А., Трофимов, В. В., Егоров, Н. В., Ильин, В., Голубков, В. & Иванов, А., июл 2020, 33rd International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC 2020. 9203525. (33rd International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC 2020).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  12. Mathematical Simulation of a 2D Diode System with a Blade-Shaped Field Emitter

    Vinogradova, E. M., Doronin, G. G. & Egorov, N. V., 1 апр 2020, в: Technical Physics. 65, 4, стр. 514-517 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 4 5 6 7 8 ...25 Далее

ID: 171853